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冲击试样缺口测量有了新的突破

更新时间:2019-07-01      点击次数:2910

概述

现有检测方法:

摆锤冲击试验中冲击试样缺口的尺寸要求非常严格,微小的变化,都会引起试验结果出现误差,为了确保冲击试样缺口制样合格,缺口检验尤其重要,目前主要的检测方法,目前市面上大多用于光学放大镜,模板对比的方式,通过投影,将试样投影到模板上,再通过人工调节,对比,判断边缘来确定缺口是否合格,这种方式弊端很多,1、光,采用的传统卤素灯照明,光照不是平行光,这样会对试样造成不必要的阴影,这样会影像人为的判断,使测量结果出现偏差,尤其是再遇到合格与否的试样,更难以保证测量结果的准确性。2、人为判断缺口边缘,每个人判断的方式都有差异,100个人检测会出现100个结果,这样检测结果人为因素很严重。3、效率慢,试样摆放要通过人为去调整,试样测量时必须呈水平,否则影像测量结果,前后左右上下的调整,使测量费时、费力效率低。4、测量结果只能是大概,通过人为判断,结果不能保存起来,不变以后对试样的复查,尤其是仲裁时,无法提供检测数据以及说明。

例如对夏比冲击V型缺口试样来说,GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分:试验方法》中要求,V型缺口深度2mm加工偏差范围是±0.075,缺口角度为45°加工偏差为±2°,缺口底部半径0.25mm加工偏差为0.025mm这样的偏差范围用肉眼去判断是很难做到了,肉眼判断0.1mm的误差都非常吃力,更不用说0.025等误差了。美标更严格。

新测量技术:

TOP-IG自动冲击试样缺口测量仪,是我公司根据广大用户的实际需求盒按照GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分:试验方法》、ASTM E23,新研发的与夏比V型U型缺口加工检验的设备“自动冲击试样缺口测量仪”

原理

该测量仪利用光学拍摄的方法,将冲击试验V型U型缺口全貌采集到显示器上,本测量仪采用的千万像素相机及镜头以及机器视觉的平行光源,对试样垂直照射,不会对试样造成任何阴影,使缺轮廓清晰的显示出来,通过离析像素技术,准确自动判定缺口边缘,对缺口测量。

特点

1、  测量速度款:

测量缺口只需2部就可以完成,步:将试样放到试样台上(测量视场范围内),第二部:点击测量按钮,测量结果瞬间得出;每分钟可测量80-180根试样;

2、  测量准确:

自动捕捉,自动测量,不受人为因素影响,一次测量缺口角度、缺口深度、缺口底部半径、缺口底部高度。

3、  自动判定

自动进行判定,判定依据可以执行GB、ISO、ASTM、企业标准、企业自定义标准来对测量结果自动判定。

4、  模块化设计

模块化设计,可根据用户自定义测量误差范围,自定义执行标准等。

5、  测量技术

采用像素解析技术,自动捕捉缺口边缘,无需将试样摆放水平。

6、可导入图片进行二次测量,用于仲裁或具有纷争的结果查询、再测量;

7、测量结果:每一个人测量的结果都相同,100个人测量得出的结果只有1中,*不受人为因素影像。

技术参数

测量视场:5*3mm

测量精度:0.005mm

测量分辨率:0.001mm

工作台尺寸:50*50

光源:机器视觉平行光源

相机及镜头:1000万像素

测量方式:自动测量

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